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瓦里安Varian射線平板探測(cè)器不同類型的原理

更新時(shí)間:2021-09-14   點(diǎn)擊次數(shù):1920次
   瓦里安Varian射線平板探測(cè)器可生成高質(zhì)量的CBCT及全景影像,適合中型牙科應(yīng)用。非晶硅探測(cè)器已成為醫(yī)療、牙科及工業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域內(nèi)CBCT成像設(shè)備的衡量標(biāo)準(zhǔn)。
  不同類型的射線平板探測(cè)器其原理也有差異:
  一、碘化銫型
  一般原理是首先將X射線通過熒光介質(zhì)材料轉(zhuǎn)換為可見光,然后通過光敏元件將可見光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào),最后通過A/D將模擬電信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)。
  具體原理是:
  1.曝光前陽離子被存儲(chǔ)在硅表面上以產(chǎn)生均勻的電荷,從而在硅表面上產(chǎn)生電子場(chǎng)。
  2.曝光期間在硅中產(chǎn)生電子-空穴對(duì),并向表面釋放自由電子,從而在硅表面產(chǎn)生了潛在的電荷像,并且每個(gè)點(diǎn)的電荷密度等于局部X射線強(qiáng)度。
  3.曝光后X射線圖像存儲(chǔ)在每個(gè)像素中。
  4.半導(dǎo)體轉(zhuǎn)換器讀取每個(gè)元素并完成模數(shù)轉(zhuǎn)換。
  二、CCD型
  一般原理是增強(qiáng)屏幕用作X射線交互介質(zhì),并添加CCD以數(shù)字化X射線圖像。
  具體原理以MOS電容器類型為例:
  在P型Si的表面形成一層SiO2,然后在其上蒸鍍一層多晶硅作為電極,并在P-上施加電壓。電極的Si型襯底,以在電極A的低勢(shì)能區(qū)或勢(shì)阱下形成它。勢(shì)阱的深度與電壓有關(guān)。電壓越高,勢(shì)阱越深。光生電子存儲(chǔ)在勢(shì)阱中。光生電子的數(shù)量與光的強(qiáng)度成正比。因此,存儲(chǔ)的電荷量也反映了該點(diǎn)的亮度。存儲(chǔ)在數(shù)百萬個(gè)感光單元中的電荷形成與該圖像相對(duì)應(yīng)的電荷圖像。
  三、非晶硒型
  一般原理是光電導(dǎo)半導(dǎo)體將接收到的X射線光子直接轉(zhuǎn)換為電荷,然后通過薄膜晶體管陣列將電信號(hào)讀出并數(shù)字化。
  具體原理:
  1.X射線入射光子激發(fā)非晶硒層中的電子-空穴對(duì)。
  2.電子和空穴在外部電場(chǎng)的作用下以相反的方向移動(dòng)以產(chǎn)生電流。電流的大小與入射的X射線有關(guān)。光子數(shù)成正比。
  3.這些電流信號(hào)被存儲(chǔ)在TFT的電極間電容上,并且每個(gè)TFT和電容形成像素單元。

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